Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. Атовмян

Математика. Прикладная информатика. Научные статьи

Название
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Автор:
И. О. Атовмян
Серия:
Прикладная информатика. Научные статьи
Жанр:
Математика
Год выпуска:
2014
isbn:
Аннотация:
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.